Università degli Studi Roma Tre – CONCORSO PUBBLICO, PER TITOLI ED ESAMI, A N. 1 POSTO DI TECNOLOGO CON CONTRATTO DI LAVORO SUBORDINATO, A TEMPO DETERMINATO, DELLA DURATA DI 24 MESI, IN REGIME DI IMPEGNO A TEMPO PIENO, PER LE ESIGENZE DEL DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA CIVILE INFORMATICA E DELLE TECNOLOGIE AERONAUTICHE

E’ indetto un concorso pubblico, per titoli ed esami, a un 1 posto di tecnologo con contratto di lavoro subordinato a tempo determinato della durata di 24 mesi (prorogabile una sola volta per un massimo di ulteriori 36 mesi), in regime di impegno a tempo pieno, per le esigenze del Dipartimento di Ingegneria civile Informatica e delle Tecnologie Aeronautiche dell’Università degli Studi Roma Tre, per lo svolgimento di attività di supporto tecnico per lo sviluppo di metodologie avanzate di microscopia a fascio ionico focalizzato,  in combinazione con prove di nanoindentazione in-situ e microscopia correlativa EBSD/EDS (Codice identificativo concorso: TECNO1DICITA23) nell’ambito del progetto di ricerca iENTRANCE@ENL – attivato sui bandi PNRR e in particolare finanziato nell’ambito della Missione 4, Componente 2, Investimento 3.1 “Fondo per la realizzazione di un sistema integrato di infrastrutture di ricerca e innovazione” a cui l’Università degli Studi Roma Tre collabora.

La figura professionale deve possedere spiccate conoscenze e capacità nello svolgere autonomamente attività di sviluppo di metodologie avanzate di microscopia a fascio ionico focalizzato, in combinazione con prove di nanoindentazione in-situ e microscopia correlativa EBSD/EDS.Deve possedere, altresì, esperienza nello svolgere attività di automazione di processi di nano-lavorazione a fascio ionico focalizzato tramite linguaggio Python.

Sono richieste le seguenti conoscenze e competenze:

•        ottima conoscenza dei principi alla base e delle pratiche sperimentali della microscopia a fascio ionico focalizzato;

•    ottima conoscenza delle principali tecniche di analisi nanomeccaniche tramite nanoindentazione, con particolare fuoco alle misure in-situ;

•    ottima conoscenza delle principali tecniche di analisi microstrutturale, ed in particolare Electron back Scattered Diffraction (EBSD);

•        esperienza di collaborazione nell’organizzazione di conferenze scientifiche, workshop ed eventi divulgativo-disseminativi;

•        ottima conoscenza della lingua inglese

•   ottima conoscenza di linguaggi di programmazione e scripting (in particolare Python) per l’automazione in microscopia elettronica;

•       ottima conoscenza di software, anche opensource, per misure metrologiche su immagini 2D e 3D (come ad esempio ImageJ, Gwyddion)

•        ottima conoscenza pratica di Adobe Acrobat, MS PowerPoint, MS Word, MS Excel (o loro equivalenti, anche open source);

•        ottima conoscenza pratica di software CAD (come ad esempio Autocad, SolidWorks);

•        ottima conoscenza pratica delle principali piattaforme di archiviazione condivisibile (GoogleDrive e/o SharePoint o similari).